<li id="uwyo4"></li>

<cite id="uwyo4"></cite>

新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

簡(jiǎn)要描述：單光子探測(cè)器可以對(duì)單個(gè)光子進(jìn)行探測(cè)和計(jì)數(shù)，在許多可獲得的信號(hào)強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級(jí)的新興套用中，單光子探測(cè)器可以一展身手。SPD2200是針對(duì)新型的單光子偵測(cè)器（SPD, Single Photon Detector），如應(yīng)用於dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector）光感測(cè)器，的特性測(cè)試分析設(shè)備。

產(chǎn)品型號(hào)：SPD2200
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-03-27
訪問(wèn) 量： 2751

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹

品牌	Enlitech	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	電子,汽車	暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate)	DCR
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	測(cè)量模式	咨詢光焱科技專家

特色

SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含：

*全光譜光譜響應(yīng)（SR, Spectral Responsivity）

*全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）

*全光譜光子探測(cè)率（PDP, Photon Detection Probability）

*暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）

*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光傳感器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本，并降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)周期，提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。